专利500

序号专利名称专利类型法律状态申请日期操作
1晶粒尺寸的测量方法发明公布实质审查的生效2019/12/26详情
2改善掺杂非晶硅薄膜方块电阻面内均一性的方法发明公布实质审查的生效2019/12/16详情
3电平转换电路发明公布实质审查的生效2019/12/10详情
4CMOS射频开关的仿真方法、装置及通信终端发明公布实质审查的生效2019/12/04详情
5沟槽顶部圆角化的方法发明公布实质审查的生效2019/11/20详情
6半导体结构的形成方法发明公布实质审查的生效2019/11/19详情
7ESD保护的栅极接地MOS结构发明公布实质审查的生效2019/11/18详情
8分立器件测试方法发明公布实质审查的生效2019/10/30详情
9一种可编程电容阵列电路发明公布实质审查的生效2019/10/29详情
10等离子体刻蚀装置发明公布实质审查的生效2019/10/21详情
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